THE SOLUTION
• 单波长聚焦激发技术
- 提升元素检测灵敏度2个数量级
- HS XRF实现对痕量金属元素分析能力
• 全息基本参数法（Holospec FP 2.0）
参数法（FP: Fundamental Parameters method）是X射线荧光领域的核心算法和研究重点。安科慧生研发人员历时十几年，颁布全息基本参数法-Holospec FP 2.0，将基本参数法的应用提升到前所未有的水平。
三、性能数据
• 检出限
表1 贵金属检出限汇总表 单位：mg/kg
| 贵金属 | 金（Au） | 银（Ag） | 铂（Pt） | 钯（Pd） | 铑（Rh） |
| 检出限 | 0.7 | 0.3 | 1.0 | 0.3 | 0.3 |
| 定量限 | 2.0 | 1.0 | 3.0 | 1.0 | 1.0 |
• 重复性
表2 贵金属精密度汇总表 单位：mg/kg
| 贵金属 | 铂（Pt） | 钯（Pd） |
| 测试1 | 4.98 | 1.85 |
| 测试2 | 5.14 | 1.75 |
| 测试3 | 5.52 | 1.61 |
| 测试4 | 6.11 | 1.57 |
| 测试5 | 4.88 | 1.65 |
| 测试6 | 5.39 | 1.96 |
| 测试7 | 6.48 | 1.75 |
| 标准值 | 5.70 | 1.67 |
| 平均值 | 5.50 | 1.73 |
| RSD | 11% | 8% |
说明： ① 测试样品为铂族元素地球化学成分分析标准物质GBW07342
② 样品测试时间为450秒
• 准确性
表3 贵金属准确性汇总表
| 贵金属元素 | 含量范围（mg/kg） | 相对偏差（RD） |
| 金（Au）、铂（Pt） | 3~10 | ＜25% |
| 10~100 | ＜15% | |
| ＞100 | ＜10% | |
| 银（Ag）、钯（Pd） 铑（Rh） |
2~10 | ＜25% |
| 10~100 | ＜15% | |
| ＞100 | ＜10% |
分别购买金标识为999.9金首饰、金薄片（金含量≥99.5%）和普通金片（金含量≥99%），测试其中杂质元素及其含量，测试结果对比如下：
表4 不同金含量样品测试结果对比表 单位：mg/kg
| 样品名称 | Au | Cu | Zn | Ga | Pb | Mn | Ni | Cr | Fe | Ag | Cd |
| 金首饰 | 99.96% | 17.31 | 113.1 | 170.8 | 16.50 | 21.36 | 12.90 | N.D | N.D. | 27.29 | 115.3 |
| 金薄片 | 99.86% | 39.66 | 457.5 | 83.92 | N.D | 5.25 | N.D. | 74.9 | 664.7 | 5.14 | N.D |
| 金片 | 99.58% | N.D | N.D | 61.48 | 90.40 | 368.6 | 70.94 | 649.7 | 0.2743% | 97.88 | 123.3 |
注：N.D表示未检出。
针对不同金属基体镀贵金属，可准确测定贵金属镀层厚度，测定结果如下：
样品1：在金属铜基体上镀金
| 镀层贵金属类型 | 实际厚度 | 测试厚度 |
| 金（Au） | 0.53μm | 0.53μm |
| 金（Au） | 2.10μm | 2.07μm |
| 金（Au） | 4.83μm | 4.72μm |
| 金（Au） | 9.64μm | 9.43μm |
复杂样品2：在金属铁基体上镀多层金属从下往上依次镀镍铜镍金银金，测试结果如下：
| 镀层金属类型 | 实际厚度 | 测试厚度 |
| 金（Au）1 | 1.04μm | 1.03μm |
| 银（Ag） | 2.15μm | 1.98μm |
| 金（Au）2 | 1.02μm | 1.13μm |
| 镍（Ni）1 | 1.96μm | 2.19μm |
| 铜（Cu） | 1.83μm | 2.12μm |
| 镍（Ni）2 | 0.95μm | 1.23μm |
谱图示例（左下图为样品测试面放大图）
四、应用特点
检测速度快
同步分析贵金属（金、银、铂、钯、铑等），5~10分钟完成一个样品分析；
检出限低
单波长聚焦激发技术将贵金属含量检出限降低至＜1mg/kg级别；
样品制备简单
可以检测固体、粉末、液体、膏状等样品，提供样品制备设备与方法；
现场检测
仪器便携性强，可以在大部分场所和环境完成现场物料贵金属含量检测；
检测成本低
单个样品分析成本10元以内；
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